Stage en afstudeermogelijkheden: Vertex Detectie

Het NIKHEF is betrokken bij ontwerp en realisatie van halfgeleider Vertex detektoren ten behoeve van een vijftal experimenten die worden verricht in Hamburg (DESY) en Genève (CERN).   Met behulp van vertex detetoren kan de positie van het botsings- en/of vervalspunt van elementaire deeltjes in een experiment nauwkeurig bepaald worden.

Recentelijk is de technische infrastructuur op het NIKHEF te Amsterdam uitgebreid met een aantal schone ruimtes en met meetapparatuur, onder meer een half automatisch Wafer-Prober station.   Hiermee zullen capaciteits en weerstandsmetingen worden gedaan aan prototype wafers met Silicon strip- en pixel detectoren, als ook aan CMOS wafers met uitlees elektronica.   De infrastructuur behelst eveneens diverse (automatische) bond-machines.

Er zijn twee stage/afstudeerposities beschikbaar:

	het verrichten van metingen aan sensoren en uitlees electronica en/of
	het verder ontwikkelen van semi-automatische meetprocedures (macro's ontwikkeld in o.a. LabView™) voor het Waver-Prober Station

Nadere informatie kan worden ingewonnen bij:

	Prof. Dr. Ing. B. van Eijk
	Dr. J.L. Visschers (NIKHEF, tel. 020-592 2152, email janv@nikhef.nl)