Stage en afstudeermogelijkheden: Bundeltelescoop

Het NIKHEF is betrokken bij ontwerp en realisatie van halfgeleider vertex detektoren ten behoeve van een zestal experimenten die worden verricht in Hamburg (DESY), Genève (CERN) en Chigago (Fermilab).   Met behulp van vertex detetoren kan de positie van het botsings- en/of vervalspunt van elementaire deeltjes in een experiment nauwkeurig bepaald worden.

Met behulp van een 'testbundel' van geladen deeltjes kunnen nieuw ontwikkelde detectoren op hun werking getoetst worden.  Het is hierbij cruciaal dat de positie van het geladen deeltje, op het moment van treffen van het prototype, nauwkeurig bekend is.  Een testbundel zal over het algemeen grote hoeveelheden geladen deeltjes per seconde leveren zodat positiebepaling snel en efficient dient te geschieden. Met behulp van vier zogenaamde referentie detectoren, welke op een optische bank aan weerzijden van het prototype gemonteerd zijn, wordt dit gerealiseerd.

De referentiedetectoren bestaan uit dubbelzijdig bewerkt silicon, waarop een strippatroon ge-etst is.  Bij passage van het silicon genereren de geladen deeltjes vrije ladingsdragers welke electronisch gedetecteerd kunnen worden.   Momenteel kan deze 'bundeltelescoop' ongeveer 1000 geladen deeltjes per seconde detecteren.

De werkzaamheden tijdens de stage/het afstuderen betreffen:

	het testen van de bundeltelescoop in een testbundel bij CERN (en eventueel in een experiment)
	het verder ontwikkelen van het data acquisitie en data analyse systeem
	het ontwerpen van een tweede generatie bundeltelescoop (hoger ruimtelijk oplossend vermogen, snellere acquisitie)

Nadere informatie kan worden ingewonnen bij:

	Prof. Dr. Ing. B. van Eijk
	Dr. F. Hartjes (NIKHEF, tel. 020-592 5010, email F.Hartjes@nikhef.nl)
	Ir. R. Scholte (email R.Scholte@nikhef.nl)