Er is een serieuze beperking van STM omdat
deze afhangt van de geleiding van het oppervlak en de
naald
–De meeste materialen hebben geen geleidend
oppervlak
–Een atomic force microscope (AFM) is ontwikkeld en die heeft deze beperking
niet
–Men meet nu de kracht tussen het oppervlak en de
naald
–Men behaalt een vergelijkbare resolutie