Promotiebericht
Nikhef, 12-12-2012
On the Cutting Edge of Semiconductor Sensors
Towards Intelligent X-ray Detectors
Marten Bosma, promovendus aan het Nikhef, verdedigt zijn proefschrift vrijdag 21 december 2012 aan de Universiteit van Amsterdam.
State-of-the-art pixeldetectoren anno 2012 combineren geavanceerde signaalverwerkingselektronica met hoogwaardige kristallijne halfgeleidersensoren. Vergeleken met hedendaagse medische radiografiesystemen, kunnen deze detectoren met gebruik van een vergelijkbare stralingsdosis scherpere röntgenfoto’s maken. Zelfs is het mogelijk om kleurenröntgenfoto’s te maken, hetgeen de diagnostische waarde van een foto significant kan verhogen.
Het gelimiteerde oppervlak van deze detectoren vormt echter een grote uitdaging om een concurrerend radiodiagnostisch systeem te realiseren. Een getegeld oppervlak van meerdere detectoren zou daarvoor de oplossing kunnen bieden. Echter, de afschermelektroden aan de rand van conventionele halfgeleidersensoren veroorzaken een ongevoelige detectorrand van typisch 5 tot 10 pixels breed. Dit leidt tot naden in het samengestelde beeld en een verkleining van deze rand is dus hard nodig om de detectoren geschikt te maken voor tegelen. In dat kader zijn nieuwe methoden ontwikkeld om sensoren met een smalle ongevoelige rand te vervaardigen.
In dit proefschrift zijn de elektrische en detectie-eigenschappen van dit type sensoren in kaart gebracht door middel van metingen aan zowel de totale lekstroom als de gevoeligheid en het ruisgedrag van randpixels. Hieruit blijkt dat de ongevoelige-randbreedte waarschijnlijk gereduceerd kan worden tot het formaat van minder dan één pixel. Deze significante verkleining brengt de realisatie van grote dosis-efficiënte detectoren een stap dichterbij.
On the Cutting Edge of Semiconductor Sensors
Towards Intelligent X-ray Detectors (pdf)
De promotie vindt plaats op vrijdag 21 december, om 12.00 in de Agnietenkapel, Oudezijds Voorburgwal 231, van de Universiteit van Amsterdam.
Promotor: prof. dr. ir. E.N. Koffeman
Co-Promoteres: dr. M.G. van Beuzekom en dr. J. Visser
Contact: Marten Bosma